有时，材料的特性(例如磁性和催化作用)可能会由于其原子之间的间隔发生微小变化而发生剧烈变化，这在材料科学的术语中通常称为“局部应变”。因此，对这种局部应变的精确测量对于材料科学家来说非常重要。

　　用于此目的的一项强大技术是“高角度环形暗场成像”(HAADF)，这是一种扫描透射电子显微镜(一种用于绘制材料内原子位置的技术)中的方法，它产生的图像具有理论上的亮点与原子位置一致。然而，在实践中，由于设备中的机械和电气噪声，HAADF 图像经常失真，将最小的可测量局部应变限制为略高于1%。

　　现在，由日本高级科学技术研究所(JAIST)助理教授 Kohei Aso领导的一组科学家利用数据科学领域的方法更准确地测量材料中的应变分布，提高了HAADF的精度成像。这项研究发表在ACS Nano上，是与日本九州大学的JAIST教授Yoshifumi Oshima、当时的研究生Jens Maebe、博士后研究员Xua Quy Tran、助理教授 Tomokazu Yamamoto和Syo Matsumura教授合作进行的。

　　该团队将HAADF成像与高斯过程回归(GPR)相结合，这是一种常用于机器学习以及经济学和地质学等领域的数据处理技术。在高斯过程中，假设数据的真实状态(在这种情况下，原子位置或位移)由平滑函数表示，并且在观察数据时将随机噪声添加到该“真实状态”中。通过GPR逆转这一过程，人们可以更准确地估计原子的真实位置，从而更精确地计算局部应变。具体来说，所提出的方法使团队能够以0.2%的精度测量应变。

　　该团队通过测量金纳米结构中的局部应变并将金纳米球中的拉伸应变与不同长度的金纳米棒(基本上是带有半球帽的圆柱体)中的拉伸应变进行比较，证明了他们方法的潜力。这些比较表明，金纳米粒子中的应变分布根据它们的形状而变化，纳米棒在曲率突然变化的区域附近表现出约0.5%的拉伸应变。

　　Aso博士解释了这些特定实验背后的动机，球形金纳米粒子在其整个表面受到均匀的应力，这种应力与表面张力成正比。因此，在垂直于表面的方向上发生均匀的压缩应变。相比之下，在金纳米棒中，应力应用到表面变得不均匀，科学家们推测拉伸应变应该发生在某些地方。然而，直到现在，这还没有通过实验得到证实。

　　有了这些发现，该团队对其应变测量策略的未来前景感到兴奋。我们的技术将提供有关原子世界的详细信息，这对于开发具有高性能和小尺寸的创新材料和设备是必要的。这可能有助于开发采用纳米级材料和结构的设备和传感器。此外，该方法不需要昂贵的修改或复杂的程序，可以很容易地采用，麻生博士说。